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X熒光光譜儀

型號:EDX-8300H

產品時間:2024-08-30

簡要描述:

EDX-8300H X熒光光譜儀規(guī)格:1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-鈾)抽真空2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%3.Z低檢出限:1PPM

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詳細介紹

EDX-8300H X熒光光譜儀規(guī)格:

1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-U)抽真空

2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

3.zui低檢出限:1PPM

4.能量分辨率129±5ev

5.樣品腔尺寸:520*310*120(MM)

6.多次量測重復性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)

                                                        ±0.002%(微量)

 長期工作穩(wěn)定性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)


                                                        ±0.0025%(微量


EDX-8300H X熒光光譜儀應用區(qū)域

1.ROHS\無鹵檢測指令

  CD <100   PB<1000

  HG <1000 Cr6 <1000

  PBBS <1000

 PBDEs <1000

2.合金分析領域

   銅合金 不銹鋼 AL 鍍層

3.包裝指令檢測標準(94/62/EC)

   CD PB Hg Cr6 <100

4.玩具指令檢測標準

    EN71-3

5 .鍍層成分分析

    鍍層厚度分析

    鍍層環(huán)保檢測 

 

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